Nachgeschärfte Spitzen zeigen hohe optische Feldverstärung – in Nanoletters erschienen
Es gibt seit vielen Jahrzehnten Forschung und Entwicklung zu neuartigen Elektronenquellen, beispielsweise an scharfen Metallspitzen als Quelle in Elektronenmikroskopen. Diese Spitzen werden üblicherweise elektrochemisch hergestellt und weisen einen minimalen Spitzenradius von ca. 10 nm auf. Für Photoemissionsexperimente, die die extreme optische Nahfeldverstärkung eines einstrahlenden Laserpulses an der scharfen Nadelspitze ausnutzen, ist es besonders interessant, diese Spitzen in Hinblick auf Spitzenradius und Öffnungswinkel zu optimieren. Wir konnten nun gemeinsam mit Kollegen aus dem Fachbereich für Materialwissenschaft und Werkstofftechnik der FAU zeigen, dass elektrochemisch hergestellte Metallspitzen nachträglich mit Neonionen-Bombardment im Ultrahochvakuum geschärft werden können, so dass Spitzen mit einem Radius von nur 1 nm entstehen. Mithilfe von Starkfeldphysik, insbesondere der Interpretation von Rückstreuspektren von Elektronen, zeigen wir jetzt in unserer neuen Publikation bei Nanoletters, dass solche Spitzen wesentlich höhere optische Nahfeldverstärkung aufweisen und als lasergetriebene gepulste Elektronenquelle genutzt werden können. Die Veröffentlichung liegt hier.